Dalam fabrikasi semikonduktor, etsa adalah salah satu langkah utama, bersamaan dengan fotolitografi dan deposisi film tipis. Ini melibatkan menghilangkan bahan yang tidak diinginkan dari permukaan wafer menggunakan metode kimia atau fisik. Tahap ini dilakukan setelah pelapisan, fotolitografi, dan pe......
Baca selengkapnyaSubstrat SiC dapat memiliki cacat mikroskopis, seperti Threading Screw Dislocation (TSD), Threading Edge Dislocation (TED), Base Plane Dislocation (BPD), dan lain-lain. Cacat ini disebabkan oleh penyimpangan susunan atom pada tingkat atom. Kristal SiC mungkin juga memiliki dislokasi makroskopis, sep......
Baca selengkapnyaBerdasarkan hasil penelitian, lapisan TaC dapat berfungsi sebagai lapisan pelindung dan isolasi untuk memperpanjang masa pakai komponen grafit, meningkatkan keseragaman suhu radial, mempertahankan stoikiometri sublimasi SiC, menekan migrasi pengotor, dan mengurangi konsumsi energi. Pada akhirnya, sa......
Baca selengkapnya